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    原子力顯微鏡測(cè)試(AFM)

    原子力顯微鏡測(cè)試(AFM)，可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱。

    更新時(shí)間：2024-09-05型號(hào)：瀏覽量：1375
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